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  • Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen

    Stefan Bruno Werling

    Band 3 von Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildauswertung
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    Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präsentiert. Zur Rekonstruktion spiegelnder Flächen wird ein neuartiger Algorithmus dargelegt. Große, komplex geformte spiegelnde Objekte können mit den dargelegten Methoden geprüft und vermessen werden.

    Umfang: XI, 262 S.

    Preis: €48.00 | £44.00 | $84.00

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    Werling, S. 2011. Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000023287
    Werling, S.B., 2011. Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000023287
    Werling, S B. Deflektometrie Zur Automatischen Sichtprüfung Und Rekonstruktion Spiegelnder Oberflächen. KIT Scientific Publishing, 2011. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000023287
    Werling, S. B. (2011). Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000023287
    Werling, Stefan Bruno. 2011. Deflektometrie Zur Automatischen Sichtprüfung Und Rekonstruktion Spiegelnder Oberflächen. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000023287




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    Dieses Buch ist lizenziert unter Creative Commons Attribution + Noncommercial + NoDerivatives 3.0 DE Dedication

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    Weitere Informationen

    Veröffentlicht am 12. August 2011

    Sprache

    Deutsch

    Seitenanzahl:

    282

    ISBN
    Paperback 978-3-86644-687-8

    DOI
    https://doi.org/10.5445/KSP/1000023287