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Diese Arbeit beschreibt den neuartigen Einsatz von breitbandigen kontinuierlichen Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-On-Wafer-Messtechnik durch die Integration in On-Wafer-Messspitzen. Eine modellbasierte Methode für den effizienten Entwurf von Frequenzweichen mit einer Vielzahl einstellbarer Parameter ermöglicht die erstmalige Realisierung einer DC – 110 GHz – 170 GHz Frequenzweiche.
This work describes the novel use of broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realization of a DC – 110 GHz – 170 GHz diplexer for the first time.
Umfang: XIII, 183 S.
Preis: 46.00 €
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Boes, F. 2021. Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000128278
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Veröffentlicht am 4. Juni 2021
| Paperback | 978-3-7315-1078-9 |