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    • Reflection and transmission Ramanspectroscopy for the chemical characterizationof solid materials

    E. Ostertag, D. Oelkrug, R. W. Kessler

    Kapitel/Beitrag aus dem Buch: Längle, T et al. 2013. OCM 2013 – Optical Characterization of Materials – conference proceedings.

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    This paper compares Raman intensities from reflection
    (XR) and transmission (XT) setups for the chemical characterization
    of solid materials. The suitability of measuring the Raman
    radiation for deep probing of the inner volume of turbid matter is
    discussed from a theoretical and an experimental point of view.

    Fächer:

    electrical engineering 

    Schlagwörter:

    Spectroscopy Spectral Data Processing Material Characterization Measurement Principals Inspection Systems 

    :

    Empfohlene Zitierweise für das Kapitel/den Beitrag
    Ostertag, E et al. 2013. Reflection and transmission Ramanspectroscopy for the chemical characterizationof solid materials. In: Längle, T et al (eds.), OCM 2013 – Optical Characterization of Materials – conference proceedings. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.58895/ksp/1000032143-6
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    Veröffentlicht am 6. März 2013

    DOI
    https://doi.org/10.58895/ksp/1000032143-6