• Part of
    Ubiquity Network logo
    Interesse beim KIT-Verlag zu publizieren? Informationen für Autorinnen und Autoren

    Lesen sie das Kapitel
  • No readable formats available

    • Infrared reflection absorption spectroscopy forcharacterization of alkylsilane monolayers onsilicon nitride surfaces

    Xia Stammer, Stefan Heissler, Christof Wöll

    Kapitel/Beitrag aus dem Buch: Längle, T et al. 2013. OCM 2013 – Optical Characterization of Materials – conference proceedings.

     Zurück zum Buch
     Download
    Buch kaufen

    Fächer:

    electrical engineering 

    Schlagwörter:

    Spectroscopy Spectral Data Processing Material Characterization Measurement Principals Inspection Systems 

    :

    Empfohlene Zitierweise für das Kapitel/den Beitrag
    Stammer, X et al. 2013. Infrared reflection absorption spectroscopy forcharacterization of alkylsilane monolayers onsilicon nitride surfaces. In: Längle, T et al (eds.), OCM 2013 – Optical Characterization of Materials – conference proceedings. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.58895/ksp/1000032143-8
    Lizenz

    No license information is available about this publication.

    Peer Review Informationen

    Dieses Buch ist Peer reviewed. Informationen dazu Hier finden Sie mehr Informationen zur wissenschaftlichen Qualitätssicherung der MAP-Publikationen.

    Weitere Informationen

    Veröffentlicht am 6. März 2013

    DOI
    https://doi.org/10.58895/ksp/1000032143-8