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Monographie
Stanislav Dogel
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Monographie
Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
Christian Emanuel Negara
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Sensitivity enhanced glucose sensing by return-path Mueller matrix ellipsometry
Jürgen Beyerer, Thomas Längle, Matthias Hartrumpf, Chia-Wei Chen